Версия для печати
Первичный эталонный источник VCH-1008CПервичный эталонный источник VCH-1008C предназначен для формирования высокостабильных сигналов используемых в цифровых сетях связи в качестве синхросигналов первого уровня иерархии. Применение цифровых технологий для формирования и обработки сигналов позволяет реализовать наилучшие характеристики стабильности.
Основные области применения.
- синхронизация в цифровых сетях связи.
Основные характеристики:
Выходные сигналы:
Cинусоидальные: 5 МГц; 10 МГц; 100 МГц, (1±0.2) В на нагрузке 50 Ом.
Импульсные: 2,048 МГц (прямоугольный импульс), (1,5÷2,8) В на нагрузке 75 Ом (МСЭ-Т G.703 раздел 13). 1, 1/60 Гц, импульс положительной полярности, длительность импульса (10±0.1) мкс, TTL уровень на нагрузке 50 Ом, длительность фронта <10 нс.
Метрологические характеристики
Погрешность по частоте |
±3×10−13 (при выпуске) |
Относительная погрешность по частоте |
≤±1×10−12 |
Частотный корректор |
разрешение диапазон
|
1×10−15 1×10-10 |
Нестабильность частоты (вариация Аллана при (25±1)C°, без воздействия внешних факторов) |
1 с |
≤1,0×10−12 |
10 с |
≤3,0×10−13 |
100 с |
≤1,0×10−13 |
1 час |
≤3,0×10−14 |
1 день |
≤2,0×10−14 |
Погрешности (согласно МСЭ-Т G.811 раздел 6.1 и ЕТС 300 462-6 раздел 5.1) |
Максимальная ошибка временного интервала |
Интервал наблюдения t(с) |
МОВИ, (нс) |
0,1< t ≤1000 |
0,275t+25 |
t>1000 |
0,01t+290 |
Девиация временного интервала |
Интервал наблюдения t(с) |
ДВИ (нс) |
0,1< t ≤100 |
3 |
100< t ≤1000 |
0,03t |
1000< t ≤10 |
30 |
Погрешность синхронизации по внешней шкале времени, не более |
≤±50 ns |
Магнитная чувствительность, не более |
≤±2×10−14 1/Эрстед |
Применяются цифровые технологии для формирования и обработки сигналов
Полный мониторинг рабочих параметров прибора на ЖК-дисплее передней панели.
Интерфейсы: RS-232C; USB; LAN .
Питание: переменный ток: 100–240 В, 50-60 Гц; постоянный ток: (38,4–57,6) В, два входа.
Потребляемая мощность, не более: 80 Вт.
Размеры (Ш×В×Г): 470 мм×200 мм×530 мм.
Вес: 30 кг.
Гарантия: 3 года.
Срок службы: 15 лет.
Перейти к документации на прибор
 
|
|